中国科学院计算技术研究所李晓维 男 博导
作者：科大科院考研网 发表时间：2019-12-27 来源：研招办
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教育背景
1988-09--1991-07 中国科学院计算技术研究所 博士
学历
北京大学计算机系 199109--199307 博士后
中国科学院计算所 198809--199107 博士生
合肥工业大学计算机系 198509--198807 硕士生
合肥工业大学计算机系 198109--198507 本科生
中国科学院计算所 198809--199107 博士生
合肥工业大学计算机系 198509--198807 硕士生
合肥工业大学计算机系 198109--198507 本科生
学位
中科院计算所 199107 工学博士学位
合肥工业大学 198807 工学硕士学位
合肥工业大学 198507 工学学士学位
合肥工业大学 198807 工学硕士学位
合肥工业大学 198507 工学学士学位
工作经历
工作简历
2011-11~现在, 计算机体系结构国家重点实验室, 常务副主任
2000-09~现在, 中国科学院计算技术研究所, 研究员
1993-08~2000-08,北京大学, 副教授
1991-09~1993-07,北京大学, 博士后
2000-09~现在, 中国科学院计算技术研究所, 研究员
1993-08~2000-08,北京大学, 副教授
1991-09~1993-07,北京大学, 博士后
社会兼职
2018-10-01-今,中国电子学会, 理事
2016-01-30-今,中国计算机学会, 理事
2016-01-01-今,中国计量测试学会, 理事
2012-03-01-2016-01-29,中国计算机学会, 常务理事
2008-02-29-2016-01-31,中国计算机学会容错计算专业委员会, 主任
2016-01-30-今,中国计算机学会, 理事
2016-01-01-今,中国计量测试学会, 理事
2012-03-01-2016-01-29,中国计算机学会, 常务理事
2008-02-29-2016-01-31,中国计算机学会容错计算专业委员会, 主任
教授课程
VLSI测试与可测试性设计
科学前沿进展名家系列讲座IV
VLSI测试与可测性设计
数字系统的故障诊断与可靠设计
VLSI测试与可测性分析
数字系统的故障诊断与容错设计
科学前沿进展名家系列讲座IV
VLSI测试与可测性设计
数字系统的故障诊断与可靠设计
VLSI测试与可测性分析
数字系统的故障诊断与容错设计
专利与奖励
奖励信息
（1） 微处理器全生命周期可靠设计关键技术及应用, 二等奖, 部委级, 2018
（2） 高性能处理器测试验证与片上容错技术及应用, 二等奖, 省级, 2017
（3） 面向集成电路质量技术创新人才培养需求的教育教学改革实践, 二等奖, 院级, 2016
（4） 数字集成电路故障片上检测技术研究与应用, 二等奖, 部委级, 2016
（5） 32位星载容错控制计算机系统关键技术及应用, 二等奖, 国家级, 2015
（6） 星载微处理器系统验证-测试-恢复技术及应用, 二等奖, 国家级, 2012
（7） 高性能处理芯片的测试和可靠性设计关键技术, 一等奖, 部委级, 2011
（8） 面向计算机系统结构领域高级人才培养的课程体系建设, 一等奖, 部委级, 2008
（9） 数字电路测试若干关键技术及其在微处理器测试中的应用, 二等奖, 其他, 2008
（10） 龙芯CPU研究集体, 部委级, 2003
（11） 测试方法研究及应用, 二等奖, 部委级, 1992
